MCE Metrology présentera à Micronora 2026 plusieurs technologies complémentaires de mesure. Ici, la TurnX200 développée par le fabricant français FOX Metrology. Source : MCE Metrology
MCE Metrology présentera à Micronora 2026 plusieurs technologies complémentaires de mesure. Ici, la TurnX200 développée par le fabricant français FOX Metrology. Source : MCE Metrology

Présente depuis de nombreuses années à Micronora, l’entreprise considère le salon comme un temps fort de son activité. Il constitue, en effet, une occasion privilégiée d’échanger avec les industriels confrontés aux défis croissants du contrôle dimensionnel et de découvrir les dernières avancées technologiques du secteur. La micromécanique impose aujourd’hui des exigences toujours plus élevées en matière de précision, de répétabilité et de rapidité de contrôle. Qu’il s’agisse de composants horlogers, médicaux, aéronautiques ou de pièces usinées de haute précision, les industriels recherchent des solutions capables de sécuriser leur production tout en optimisant leurs temps de mesure. À cette occasion, MCE Metrology présentera plusieurs technologies complémentaires répondant à ces enjeux. Parmi les nouveautés exposées figurera la TurnX200, dernière innovation, développée par le fabricant français FOX Metrology. Acteur reconnu dans l’horlogerie suisse, ce dernier élargit aujourd’hui son savoir-faire au contrôle des pièces de révolution. La TurnX200 a été conçue comme une machine de transition entre la mesure plein champ et les technologies de scan, grâce à l’intégration possible d’un 4e axe et de ses accessoires dédiés. Son objectif : répondre aux besoins de contrôle des composants tournés, profils complexes et géométries cylindriques. Les visiteurs pourront également découvrir la FOX 036 équipée d’un capteur confocal, particulièrement adaptée aux applications nécessitant une acquisition rapide de surfaces complexes. La métrologie optique multi-capteurs sera représentée par la Vertex de Micro-Vu, présentée avec les fonctionnalités de mesure de rugosité et d’analyse de surface via le logiciel FOXMap. Une combinaison permettant de compléter les contrôles dimensionnels optiques par une caractérisation fine des états de surface. Enfin, le projecteur de profil CV120 de T&S viendra compléter l’offre exposée en apportant une solution performante pour la mesure des contours et profils de pièces de précision. À travers cette sélection d’équipements, MCE Metrology réaffirme sa volonté d’accompagner les industriels de la micromécanique avec des solutions adaptées à l’ensemble de leurs problématiques de contrôle, de la mesure optique plein champ à l’analyse de surface, en passant par le contrôle des pièces de révolution. Les visiteurs pourront également découvrir la FOX 036 équipée d’un capteur confocal, particulièrement adaptée aux applications nécessitant une acquisition rapide de surfaces complexes. La métrologie optique multi-capteurs sera représentée par la Vertex de Micro-Vu, présentée avec les fonctionnalités de mesure de rugosité et d’analyse de surface via le logiciel FOXMap. Une combinaison permettant de compléter les contrôles dimensionnels optiques par une caractérisation fine des états de surface. Enfin, le projecteur de profil CV120 de T&S viendra compléter l’offre exposée en apportant une solution performante pour la mesure des contours et profils de pièces de précision. À travers cette sélection d’équipements, MCE Metrology réaffirme sa volonté d’accompagner les industriels de la micromécanique avec des solutions adaptées à l’ensemble de leurs problématiques de contrôle, de la mesure optique plein champ à l’analyse de surface, en passant par le contrôle des pièces de révolution.

www.mcemetrology.com

Hall A2 – Allées 3/4 – Stand 319/418

Date de publication : septembre 2026

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