155-002-001.jpg
Q.ANT (filiale de Trumpf) et Sick ont signé un accord de coopération visant à mettre au point des capteurs quantiques industriels. Ces capteurs effectuent des mesures avec une précision sensiblement améliorée. Sick sera responsable du développement des applications et de la vente du produit tandis que la filiale de Trumpf se chargera de la production de la technologie de mesure. Les deux partenaires ont déjà réussi des tests fonctionnels d’un capteur quantique pour une application industrielle. « La technologie quantique permet de mesurer des particules qui sont environ deux cents fois plus petites que la largeur d’un cheveu humain », précise Niels Syassen, vice-président senior de la R&D chez Sick et responsable du projet. Les capteurs quantiques pourraient à l’avenir devenir des équipements courants dans le génie civil pour visualiser les structures souterraines avant le début des travaux de construction, ou dans l’industrie pharmaceutique pour déterminer la meilleure composition de la poudre de comprimés. Dans l’électronique, les circuits pourraient être inspectés à travers des surfaces et des mesures très précises pourraient être effectuées dans l’industrie en général. À lire pour en savoir plus sur le développement des technologies quantiques, le dossier du Jitec 224 (novembre-décembre 2020) : « Ordinateurs quantiques, les prémices de la 5e révolution industrielle ».
www.trumpf.com/fr_FR/
www.sick.com/fr/fr/
https://bit.ly/3lw4xK7

Date de publication : mai 2021

Partager cet article
femto 2023

Sur le même sujet

  • mai 2024

    Le partenariat vise l’amélioration des plaquettes Schott RealView utilisées dans la fabrication de guides d'ondes pour les casques de réalité augmentée (RA) et de réalité mixte (MR). Source : Schott [...]

  • mai 2024

    Le constructeur allemand de chariots a mis en place dans son usine de Hambourg (Allemagne) une nouvelle chaîne de production pour pouvoir proposer à ses clients des appareils de magasinage [...]

  • mai 2024

    La station de mesure optique MSA-600-S analyse en temps réel les vibrations et la topographie de surface des MEMS. Source : Polytec La topographie de surface, l'analyse et la visualisation [...]