JEOL

La société développe des solutions de caractérisation de pointe pour l’industrie et la recherche. Spécialiste de la microscopie électronique (MEB, MET, FIB-SEM) et de l’analyse à l’échelle nanométrique, l’entreprise est présente dans différents domaines : les matériaux, la microélectronique… Elle propose des imprimantes 3D métal et des machines, des appareils et des instruments de mesure et de contrôle. Le JIB-PS500i est un système combiné FIB-SEM développé pour la préparation, l’observation et l’analyse de matériaux à haute résolution. Il associe un faisceau d’ions focalisés (FIB) et un microscope électronique à balayage (SEM), permettant l’imagerie précise et le micro-usinage à l’échelle nanométrique. Cette combinaison offre un flux de travail intégré pour la préparation d’échantillons, leur modification et leur observation, avec une grande flexibilité d’utilisation. Le système intègre plusieurs fonctions avancées pour améliorer la productivité et la précision. Le micro-prélèvement assisté permet la manipulation fine d’échantillons délicats. La fonction CHECK-AND-GO facilite l’alternance entre FIB et SEM pour un contrôle en temps réel du processus. Des fonctions d’automatisation comme STEMPLING2 contribuent à standardiser les étapes et à réduire la dépendance à l’opérateur. Grâce à ses performances d’imagerie haute résolution et à la précision de son faisceau d’ions, le JIB-PS500i est adapté à de nombreuses applications en science des matériaux, microélectronique et semi-conducteurs, pour l’analyse de structures complexes et la préparation d’échantillons avancés.

www.jeol.fr

Hall A2 – Allée 6 – Stand 609